Doctorant en compatibilité électromagnétique (H/F)

Sujet de thèse :
Développement de méthodes d’essais pour l’analyse et l’évaluation des risques liés aux perturbations électromagnétiques au niveau des circuits intégrés :

Contexte et problématique

Le secteur du transport connait ces dernières années des transformations majeures liées à des évolutions technologiques qui conduisent à des véhicules plus électrifiés et plus autonomes. Dans un tel contexte, les enjeux de la CEM deviennent encore plus essentiels pour prévenir tout risque de dysfonctionnement lié aux perturbations électromagnétiques (EM) et garantir la sûreté de fonctionnement des utilisateurs. La complexité grandissante des environnements (EM) conjuguée aux besoins croissants de la sûreté de fonctionnement des équipements électroniques embarqués (par exemple ceux dédiés aux applications automobiles, aéronautiques ou spatiales) rendent cruciales la question de l’évaluation du risque posé par les perturbations EM sur l’intégrité du fonctionnement des composants électroniques dans des conditions de fonctionnement réalistes.

L’approche conventionnelle de validation de la CEM suppose que le respect des limites CEM, vérifié par des méthodes de test standards, est suffisante pour garantir l’absence de risque de défaillances EM, même dans un scénario pire cas. Dans le cas des circuits intégrés (CI), cette approche repose notamment sur la caractérisation de l’immunité des CI aux perturbations RF (harmoniques) définies par le standard IEC 62132 [1]. Ces essais sont très généralement complétés par des essais d’immunité aux perturbations transitoires rapides, durant lesquels les CI sont soumis à des formes d’onde standards [2] [3]. Durant l’ensemble de ces tests, les CI fonctionnent dans des conditions nominales et dans des environnements maitrisés.

Pour différentes raisons, il est cependant permis de douter de la capacité d’une telle approche à évaluer le risque de dysfonctionnements liés aux perturbations EM pour des composants ou des systèmes électroniques critiques du point de vue de la sûreté de fonctionnement. En effet, les méthodes actuelles de test de la CEM ne prévoient pas nécessairement les conditions de fonctionnement réelles et leurs effets sur les circuits électroniques, comme les défaillances ou le vieillissement. Par exemple, l’immunité est rarement testée dans des conditions pouvant conduire à un dysfonctionnement (ex : haute température ou court-circuit d’une phase d’un bras d’onduleur). L’intégrité des mécanismes de détection de fautes est rarement évaluée en présence de perturbations électromagnétiques, ce qui peut pourtant dégrader la sûreté de fonctionnement. Par ailleurs, les perturbations appliquées pendant les essais sont définies par des formes d’onde simples qui restent éloignées de celles rencontrées dans les véritables environnements EM (par exemple, perturbations multifréquentielles, perturbations transitoires de forme arbitraire). En outre, les méthodes d’essais
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