CDD Chercheur (H/F) Test et Fiabilité des Mémoires SRAM

Missions :
La mission principale consiste à développer des méthodes d'évaluation et de génération automatique de tests mémoire, ainsi que de nouveaux modèles de caractérisation et de test de type Cell-Aware (CA) pour les cellules élémentaires
et les portes logiques composant les mémoires SRAM avancées. L’objectif est d’améliorer la couverture des défauts réalistes liés aux technologies de fabrication avancées, en allant au-delà des modèles de fautes fonctionnels traditionnellement utilisés.
Ces modèles devront intégrer les informations issues du layout afin de permettre une meilleure détection et un meilleur diagnostic des défauts physiques affectant les mémoires.
Activités :
Les activités comprendront l’analyse des architectures et des cellules logiques constituant les mémoires SRAM, l’identification et la modélisation des défauts physiques susceptibles de les affecter, la génération de modèles Cell-Aware intégrant les informations technologiques et de layout, ainsi que le développement de solutions de test digitale permettant d'automatiser ou d'accélérer l'évaluation et la production de tests mémoire.
Compte tenu du nombre et de la diversité des cellules à caractériser, des techniques d'évaluation seront étudiées et mises en œuvre afin d'automatiser ou d'accélérer l'analyse de la couverture de ces modèles à l'échelle.
Les modèles développés seront ensuite utilisés pour améliorer les processus de test et de diagnostic des mémoires SRAM.
Contexte de travail :
La personne recrutée effectuera ses travaux au sein de l'équipe TEST du LIRMM. L’équipe TEST travaille sur la qualité, la fiabilité et la testabilité des systèmes microélectroniques après leur fabrication. Ses recherches portent sur les effets des technologies avancées et émergentes, notamment les technologies CMOS (FDSOI/FinFET), l’intégration 3D et les nouvelles mémoires, en tenant compte des enjeux de complexité, de variabilité de fabrication, de consommation énergétique et de sécurité. Les travaux aboutissent notamment à de nouveaux modèles de fautes, des outils de monitoring, des méthodes de conception orientées test et des architectures matérielles permettant de surveiller les systèmes tout au long de leur durée de vie.