Ingénieur en caractérisation de composants microélectroniques (H/F)

Missions :
L'ingénieur(e) de recherche aura en charge la mise en œuvre et l'exploitation de bancs de caractérisation hyperfréquence de composants microélectroniques au sein d'une plateforme technologique.
Activités :
- Réaliser les campagnes de mesures de composants microélectroniques (transistors, diodes, etc) : mesures IV, mesures de paramètres Sij, mesures de puissance
- Développer et optimiser les bancs de mesures et les protocoles de mesures
- Réaliser les études thermiques de composants microélectroniques au moyen d'un microscope thermographique par thermoréflectance
- Rédiger des documents de spécifications techniques, de conception et de réalisation ainsi que des manuels utilisateurs

Contexte de travail :
L'IEMN est une unité mixte de recherche ayant un effectif de 450 personnes. Les activités des 22 groupes de recherche de l'institut sont structurées en 5 départements scientifiques : Matériaux Nanostructures et Composants, Micro/nano/bio-systèmes, ondes et microfluidique, Micro, Nano et optoélectronique, Technologies des télécommunications et systèmes intelligents, Acoustique et systèmes intégrés. Cette activité repose sur deux grandes plateformes technologiques : la Centrale de Micro-Nano-Fabrication (CMNF) et la Plateforme de Caractérisation Multi-Physique (PCMP).
L'ingénieur(e) fera partie du pôle CHOP (Caractérisation Hyperfréquence, Optique et Photonique) de la PCMP implanté au laboratoire central à Villeneuve d'Ascq et sera placé(e) sous la responsabilité hiérarchique du responsable du pôle, composé de 4 ingénieurs permanents. Ce pôle regroupe les moyens expérimentaux de l'IEMN dédiés à la caractérisation électrique, hyperfréquence et optique de composants et sous-systèmes électroniques. Couvrant 900 m², il regroupe plus de 30 bancs de test de très haut niveau technologique. Ces bancs sont conçus pour s'adapter en continu aux besoins de la recherche. Le pôle fait partie du réseau national CNRS des grandes plateformes de caractérisation dans le domaine des ondes Radio et Hyperfréquence « RF-Net ».
Le pôle permet la caractérisation électrique vectorielle ou scalaire de composants et sous-systèmes électroniques - transistors, circuits, nanodispositifs - sur une très large gamme de conditions : du DC aux fréquences THz, en température (de 5,5 K jusqu'à 500 K), sous éclairement, sous pointes coplanaires, en coaxial ou en espace libre, et en régime non linéaire.